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型號(hào)：CHT3545

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CHT3545和普低電阻測(cè)試儀基本精度 0.01%，可測(cè)范圍 10mΩ ~1200MΩ電阻。具有高速的測(cè)試線異常檢測(cè)功能和極短的測(cè)量周期， 最高分選速度可達(dá) 450 次/秒，能確保每次做出高速可靠的分選。

型號(hào)：AT51X2

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安柏并行多路電阻測(cè)試儀AT51X2是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、并行測(cè)量的多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行同時(shí)測(cè)試。 采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示2路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器。

型號(hào)：AT51X8

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安柏并行多路電阻測(cè)試儀AT51X8是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、并行測(cè)量的多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行同時(shí)測(cè)試。 采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示8路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器。

型號(hào)：AT517

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安柏低電阻測(cè)試儀AT517是全新設(shè)計(jì)的高精度、高穩(wěn)定性的直流電阻測(cè)試儀；采用高性能ARM微處理器控制。 TFT-LCD真彩顯示，熒屏尺寸3.5英。 中英文大字體顯示, 操作更方便。新增接觸不良檢測(cè)功能。

型號(hào)：AT523

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安柏精密電阻測(cè)試儀AT523是用于測(cè)試超低或低并聯(lián)電阻的精密直流電阻測(cè)試儀，采用高性能 ARM 微處理器控制的微型臺(tái)式儀器。儀器具有 0.03%的準(zhǔn)確度和0.1μΩ分辨率，0.1μΩ~900MΩ的測(cè)量范圍。*的反復(fù)測(cè)量精度；電阻值以6位顯示，具有900,000 讀數(shù)，采樣速度為 6ms。儀器內(nèi)置溫度補(bǔ)償接口，用來(lái)補(bǔ)償因?yàn)闇囟人鸬恼`差。

型號(hào)：34420A

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Keysight（原Agilent）毫微伏/微歐表34420A以低電平測(cè)量能力建立了新的性價(jià)比標(biāo)準(zhǔn)，Keysight（原Agilent）34420A毫微伏/微歐表的噪聲性能比以前的Keysight（原Agilent）產(chǎn)品要好一個(gè)數(shù)量級(jí)。